半导体分立器件自动测试系统BJ2990	电询	北京无线电仪器厂	详细信息	收藏
	简介：半导体分立器件自动测试系统BJ2990
	XD2791 LCR电桥	2800	北京无线电仪器厂	详细信息	收藏
	简介：XD2791 LCR电桥
	BJ2989D晶体三极管正偏二次击穿、热阻抗测试系统		北京无线电仪器厂	详细信息	收藏
	简介：BJ2989D晶体三极管正偏二次击穿、热阻抗测试系统
	BJ2990型MOS场效应管测试仪	电询	北京无线电仪器厂	详细信息	收藏
	简介：BJ2990型MOS场效应管测试仪
	半导体分立器件测试仪BJ2939	电询	北京无线电仪器厂	详细信息	收藏
	简介：半导体分立器件测试仪BJ2939
	晶体管反偏二次击穿测试仪BJ2987	78000	北京无线电仪器厂	详细信息	收藏
	简介：晶体管反偏二次击穿测试仪BJ2987
	晶闸管综合参数测试仪BJ2948A	58000	北京无线电仪器厂	详细信息	收藏
	简介：晶闸管综合参数测试仪BJ2948A
	稳压二极管测试仪BJ2912B	停产	北京无线电仪器厂	详细信息	收藏
	简介：主要特点 本仪器可测量IN746~IN986系列，2CW，2DW，系列各类稳压二极管的正向压降Vf，稳定电压Vz，动态电阻Rz及反向电流Ib, 微机控制参数设置，数字显示及打印。
	二极管瞬态热阻测试仪BJ2984A	56000	北京无线电仪器厂	详细信息	收藏
	简介：本仪器可对各种类型锗，硅晶体二极管的瞬态热阻参数进行快速测量。 对以环境温度Ta为参考点不带散热器作用的中、小功率晶体二极管可以直接测定其稳态热阻； 对以壳温Tc为参考点带散热器使用的大功率晶体二极管，当用户在自行给定的散热条件下测量出壳温度Tc数值后，也可确定其稳态热阻。
	低频大功率fT测试仪BJ3022（QJ30）	78000	北京无线电仪器厂	详细信息	收藏
	简介：本仪器是测量NPN，PNP型大功率晶体管特征频率fT 专用设备，测量频率为0.3MHz、1MHz、3MHz、10MHz四个点频,测量范围为0.3MHz-100MHz并能在上述点频测量器件之高频正向共发射极电流增益︱hfe︱。本仪器由主机和三个测试盒组成，可测F1、F2、F3、F4、G3、G4六种管壳的低频大功率管，外接偏置高压电流源之偏置范围为0-50V，0-5A。
	晶体管热阻抗测试系统 BJ2984B	98000	北京无线电仪器厂	详细信息	收藏
	简介：BJ2984B晶体管热阻抗测试系统(以下简称本系统)是BJ2984的升级产品，可测试各种型号中、大功率晶体管瞬态及稳态热阻抗。在BJ2984的基础上添加了微机控制，系统软件基于微软视窗系统的操作环境，使您轻松掌握测试。
	晶闸管综合参数仪 HB2931B	22800	北京无线电仪器厂	详细信息	收藏
	简介：HB2931B型晶闸管综合参数测试仪是用于测量晶闸管的通态，断态门极常用静态参数的综合性参数测量仪器。参数测量原理符合GB4024-83半导体器件反向阻断三极晶闸管的测试方法有关规定

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