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数字集成电路测试仪存在的问题
【来源】本站 【日期】2009/8/28
集成电路(下称IC)的测试问题逐渐显露出来。苹果机数字集成电路测试(下称“数字IC测试”)卡,与苹果机一起构成所谓的“个人测试仪”,是这一时期最具代表性的数字IC功能测试仪之一。其实它完全是一种为了配合苹果机销售而制作的“业余测试”仪。它的出现使得计划经济体制下,许多希望购买计算机的单位,找到了购买计算机的借口;但真正希望对数字IC进行有效测试的单位,很快发现此类IC功能测试仪毫无使用   价值!然而,此种“业余测试”的数字IC测试仪依然传承至今,数字IC功能测试仪价格低廉是其得 以传承的主要原因。集成电路测试仪数字IC(直流参数)测试仪一般应该具备三个基本部分:测试图形发生器、管脚电路及各种测试所必备的测试基准源。它的特点是测试IC输入、输出端的电压、电流及电源端功耗电流,同时完成数字IC的真值表功能测试。集成电路测试仪数字IC功能测试仪的特点是:对数字IC仅仅进行真值表功能测试。由于数字IC功能测试仪,不具备直流参数测试的基础(无测试基准源等),因此只能进行一些简单的逻辑测试,即IC输出端的“0”、“1”测试,而“0”、“1”如何定义?当负载电流变化时“0”、“1”的变化范围是否合理?这些都无法确定,而这是IC测试者所关心的。集成电路测试仪 另一方面IC是由输入、输出及电源端组成,此三类端口在使用过程中是互相制约的相互影响的。由于功能测试仪不能对IC输入端及电源端测试(不测直流试参数),因此功能测试将产生严重问题.
 
 
 
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